明暗场正置金相显微镜XJ-54C

产品概述

科研级明暗场正置金相显微镜XJ-54C配有超大移动范围的载物台，落射照明器、无限远明暗场长距平场物镜和大视野目镜的配置。具有外形美观，图像清晰度高、操作方便等特点，同时配有暗场装置及偏光装置，可实现暗场和偏光观察，是一款多功能工业检测显微镜。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50X-500X

性能特点：

1、采用了较为先进的无限远光路设计，提供了优良的光学系统。

2、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置，拓展了功能。

3、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台，适合大工件的检查。

4、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜，视场平坦,成像清晰。

5、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。

典型应用：

1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验。

2、观察材料表面的某些特性，

3、分析金属、矿相内部结构组织。