三目倒置金相显微镜XJ-51C

产品概述

科研级三目倒置金相显微镜XJ-51C采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、工程学研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X

科研级三目倒置金相显微镜XJ-51C性能特点：

1、采用了先进的无限远光学系统设计，提供了优良的光学系统。

2、整机了采用防霉处理，保护了光学元件延长了仪器使用寿命。

3、采用大视野目镜和无限远长距平场物镜配置，视场平坦。

4、配置了偏光装置并可选配暗场、微分干涉装置，拓展了功能。

5、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。

科研级三目倒置金相显微镜XJ-51C典型应用：

1、鉴定和分析金属内部结构组织。

2、电子工厂PCB板检验。

2、观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀。